SEM
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SEM:SU8020の保守点検 7/28，29
SEM:SU8020の保守点検を以下の日程で実施します。期間中は利用できませんので、ご承知おきください。 7/28（火）9:00～7/29（水）17：00 １２０２６．７．…
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SEM:Regulus8220のSE(L)検出器不調⇒修理完了
原因）SE(L)検出器内部のライトガイド下部で放電が起きていたため。 非常に稀な箇所とのこと。 その部分の放電で、２次電子引き込み電圧10kVが不安定になった。 対応）放電痕を研磨して除去して…
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カーボン蒸着装置クリーニング
SEMの導電膜成膜装置として簡易カーボンコーター（奥の小部屋）を開放していますが、最近、クリーニング時に使用いただいているピカール（金属研磨剤）の使用量過多と使用後の拭き取り不良が散見されています。そ…
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SEM：SEM観察用のFIB断面加工
この度、マイクロ・ナノテクノロジー研究センターならびにイオンビーム工学研究所西村教授のご協力を得まして、精密分析室でもFIB断面加工を開始しましたので、ご紹介致します。 FIB(Focused Ion
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ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ EDS基礎セミナー 視聴可能
オックスフォード・インストゥルメンツ（SU8020のEDSメーカー）の基礎セミナーが視聴できます。EDS分析の予習・復習にご利用ください。 （名前やメールの登録は必要です）下記リンクよりアクセスできま…