お知らせ
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SEM:SU8020の保守点検 7/28，29
SEM:SU8020の保守点検を以下の日程で実施します。期間中は利用できませんので、ご承知おきください。 7/28（火）9:00～7/29（水）17：00 １２０２６．７．…
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SEM:Regulus8220のSE(L)検出器不調⇒修理完了
原因）SE(L)検出器内部のライトガイド下部で放電が起きていたため。 非常に稀な箇所とのこと。 その部分の放電で、２次電子引き込み電圧10kVが不安定になった。 対応）放電痕を研磨して除去して…
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HT7800保守点検 →5/15無事完了しました
カテゴリー : お知らせ5/13(水)-5/15(金)にて、日立ハイテクの方による保守点検が行われます。 その間、装置利用はできず、利用者の皆様にはご不便おかけしますが何卒宜しくお願い申し上げます。 また、この機会に、何か装…
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利用者に関するガイドラインの一部改訂
運営員会におきまして、「理工系以外の専任教員・学生・職員」が構成員AからBに変更することが決まりました。 具体的には、「理工系以外の専任教員・学生・職員」の利用には、法政大学理工系専任教員との共同研究…
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TEM(HT7800)点検とフィラメント交換の完了
カテゴリー : お知らせ2月上旬に業者の方に来ていただき生物系TEM(HT7800)の点検、併せて今期のフィラメント交換も完了しました。 今回、電子銃部のクリーニング等、特に高圧下でも安定性向上も含めた整備を行って頂きました…
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カーボン蒸着装置クリーニング
SEMの導電膜成膜装置として簡易カーボンコーター（奥の小部屋）を開放していますが、最近、クリーニング時に使用いただいているピカール（金属研磨剤）の使用量過多と使用後の拭き取り不良が散見されています。そ…
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マニュアル等の資料ダウンロード・動画視聴の際の手続き変更
都合により、ウェブサイトからBOXへのリンク先を変更しました。それに伴いまして、これまでマニュアル等のダウンロードの際は別途指定のパスワードの入力が必要でしたが、今後は、各自の法政Boxへのログイン操…
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SEM：SEM観察用のFIB断面加工
この度、マイクロ・ナノテクノロジー研究センターならびにイオンビーム工学研究所西村教授のご協力を得まして、精密分析室でもFIB断面加工を開始しましたので、ご紹介致します。 FIB(Focused Ion
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ｵｯｸｽﾌｫｰﾄﾞ EDS基礎セミナー 視聴可能
オックスフォード・インストゥルメンツ（SU8020のEDSメーカー）の基礎セミナーが視聴できます。EDS分析の予習・復習にご利用ください。 （名前やメールの登録は必要です）下記リンクよりアクセスできま…