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ペースメーカー/強磁場注意
酸欠/凍傷注意
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酸欠/凍傷注意
NMR (Nuclear Magnetic Resonance):核磁気共鳴分光法
Bruker AVANCEⅢ One Bay
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/NMR-AVANCE3.jpg)
TEM (Transmission Electron Microscopy):透過電子顕微鏡
日本電子 JEM-2100F
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/JEM-2100F.jpg)
付属装備
EDS (エネルギー分散型特性X線分光分析装置)
日本電子 JED-2300
主要性能
Li doped Si Detector 30mmSQ Window:UTW
検出可能元素:B(5)- U(92)
ほか性能
エネルギー分解能:≦138eV
組成分析(定性・半定量)、強度マッピング
追記事項
備考
日立ハイテク HT7800
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/HT7800.jpg)
SEM (Scanning Electron Microscopy):走査電子顕微鏡
日立ハイテク Regulus8220
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/Regulus8220.jpg)
付属装備
EDS (エネルギー分散型特性X線分光分析装置)
Bruker Quantax
主要性能
通常型検出器:XFlash 6|10 SDD検出器 60mmSQ
高感度検出器:XFlash 5060FlatQUAD SDD 4x15mmSQ
ほか性能
検出可能範囲:B(5)-Am(95)
組成分析(定性・半定量)、元素マッピング
追記事項
ペルチェ素子冷却(LN2不要)
FlatQUAD検出器の使用には、特別な注意が必要です。
備考
日立ハイテク SU8020
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/SU-8020.jpg)
付属装備
EDS (エネルギー分散型特性X線分光分析装置)
Horiba(現、Oxford Ins.) EMAX
主要性能
X-MAX N 80mmSQ SDD検出器
高感度検出器:XFlash 5060FlatQUAD SDD 4x15mmSQ
ほか性能
検出可能範囲:B(5)- U(92)
組成分析(定性・半定量)、強度マッピング
追記事項
ペルチェ素子冷却(LN2不要)
備考
XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy):X線光電子分光法
Ulvac Phi ESCA5600
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/ESCA2.jpg)
AES (Auger electron Spectroscopy):オージェ電子分光法
Ulvac Phi SAM650
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/AES.jpg)
その他設備、付帯設備
【イオンスライサー™】
日本電子 EM-09100 IS
TEM試料薄片化用
![](http://seimitsulab.ws.hosei.ac.jp/wp/wp-content/uploads/2024/04/IonSlicer.jpg)
主要性能
100µm厚の試料から簡便な手順
TEM用の薄膜試料を作製
Arイオン加速電圧:1 ~ 8 kV
追記事項
無機のTEM試料作製用