メンテナンス
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材料系TEM:JEM-2100Fの撮像カメラ更新
JEM-2100Fの撮像カメラを更新します。以下の日程で実施するため、その間、使用できません。使用方法は、後日関係者にご連絡致します。 更新作業(日本電子):11/22(金)9:00 ~ 11/2…
学内 分析機器のご利用情報 : NMR TEM SEM XPS AES
学内 分析機器のご利用情報 : NMR TEM SEM XPS AES
JEM-2100Fの撮像カメラを更新します。以下の日程で実施するため、その間、使用できません。使用方法は、後日関係者にご連絡致します。 更新作業(日本電子):11/22(金)9:00 ~ 11/2…