2025年9月
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SEM:SEM観察用のFIB断面加工
この度、マイクロ・ナノテクノロジー研究センターならびにイオンビーム工学研究所西村教授のご協力を得まして、精密分析室でもFIB断面加工を開始しましたので、ご紹介致します。 FIB(Focused Ion…
学内 分析機器のご利用情報 : NMR TEM SEM XPS AES
学内 分析機器のご利用情報 : NMR TEM SEM XPS AES
この度、マイクロ・ナノテクノロジー研究センターならびにイオンビーム工学研究所西村教授のご協力を得まして、精密分析室でもFIB断面加工を開始しましたので、ご紹介致します。 FIB(Focused Ion…