精密分析室ご利用の研究室教員の方々
XPSユーザー登録者　各位

XPS装置の更新が正式に決まりました。
現有のアルバックファイ社の
　XPS:ESCA5600、AES:SAM650
の２台を廃棄し、新たにアルバックファイ社のGenesis（詳細は後記）を導入します。

スケジュールですが、以下の予定をアルバックファイ社に提案しています。
（アルバックファイで調整中ですので、変更になる可能性がありますことご承知おきください）

12/4（金）　現行XPSの講習受付終了
12末　AES装置停止
2/5（金）　XPS利用停止
2/12（金）　XPS装置停止2/17（水）　XPS/AES解体
2/18（木）　旧装置搬出、新XPS搬入・据付開始（安全確保のため、他の機器も利用停止）
2/19（金）～3/5（金）　据付調整
3/5（金）～3/9（火）　停電対応（他の機器も停電対応）
3/10（水）～3/12（金）　オペトレ（メーカーの操作講習）
3/15（月）納品完了
４月　既存ユーザーへの講習
５月～　新規ユーザーへの講習開始

本年度の説明会時にお話ししましたとおり、現行装置と新装置ではユニットの配置などが異なるため、データの直接比較ができませんので、ご留意をお願いします。
AES測定は12月まで、です。AESは更新せず、これで終了となります。
また、これに伴い、現行装置の部品・予備品でリユース可能なもののリストを、ファイルで添付しますので、譲渡希望があれば、高島まで早めにご連絡ください。リスト以外でも、容易に取り外しできるものは、譲渡します。基本、現状渡し・指定日時に引取が条件です。こちらでの取り置きは、しません。リスト品以外の本体からの取り外し（外すのに手間のかかるもの）は、今回は日程的にタイトなため、困難です。
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新装置　Genesis概要紹介ウェブページ：アルバック・ファイ株式会社グローバルウェブサイト
（派手な動画が流れます）

自動化が進展します。（試料を高真空中に入れるのも、ロボットが行います）
様々な表面分析手法が同様のオペレーションで測定できます。
X線源はAlモノクロのみで、観察機能（SXI）や微小部を狙ったXPS測定ができるようになります。

導入予定オプション類
　　GCIB（Arガスクラスターイオン銃）：化学結合を壊さず、スパッタ（表面クリーニング）
　　UPS（紫外光電子分光分析）：有機物などのバレンスバンド測定
　　REELS（反射電子分光）：3eV以上のバンドギャップ測定、一部元素の吸収端スペクトル
　　　　　　　　　　　　　　Hの検出（感度・定量性は悪い）
　　UPSとREELSは観察機能や微小部を狙った測定はできません。

今回、導入しないオプション類
　　LEIPS（低ｴﾈﾙｷﾞｰ逆光電子分光）
　　AES（走査型オージェ分光）
　　HAXPES（硬X線光電子分光法）
　　ARアパーチャ（光電子取込角制限絞り）
　　試料加熱/冷却、４端子電圧印加、トランスファーベッセル、SPS(Sample positioning sysytem)

試料ホルダーは、
　　ほぼ１セットのみのため、
　　各研究室には割り当てません。全員で共用します。

解析は、
　　専用PCで行います。ソフトの提供はいたしません。
　　基本的には従来までのMultiPakです。